表面化學(xué)分析
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)參考
BS ISO 14237-2010表面化學(xué)分析.次級(jí)離子質(zhì)譜法.使用非均一摻雜材料的硅中硼原子的濃度測(cè)定
BS ISO 14706-2000表面化學(xué)分析 用全反射X射線熒光(TXRF)分光術(shù)測(cè)定硅片的表面基本污染
BS ISO 14706-2000(R2007)表面化學(xué)分析 用全反射X射線熒光(TXRF)分光術(shù)測(cè)定硅片的表面基本污染
BS ISO 14707-2000表面化學(xué)分析.輝光放電發(fā)射光譜.使用介紹
BS ISO 14975-2000表面化學(xué)分析 信息格式
BS ISO 17560-2002表面化學(xué)分析 次級(jí)離子質(zhì)譜法 硅中硼深度壓型的方法
BS ISO 17560-2002(R2010)表面化學(xué)分析 次級(jí)離子質(zhì)譜法 硅中硼深度壓型的方法
BS ISO 17974-2002表面化學(xué)分析 高分辨率奧格電子光譜儀 元素和化學(xué)分析能量?jī)x的校準(zhǔn)
BS ISO 18114-2003表面化學(xué)分析 次級(jí)離子質(zhì)譜法 離子植入?yún)⒖疾牧舷鄬?duì)靈敏度的測(cè)定
BS ISO 20341-2003表面化學(xué)分析 次級(jí)離子質(zhì)譜法 用多Δ層參考物質(zhì)估算深度分辨參數(shù)的方法
BS ISO 20341-2003(R2010)表面化學(xué)分析 次級(jí)離子質(zhì)譜法 用多Δ層參考物質(zhì)估算深度分辨參數(shù)的方法
BS ISO 24236-2005表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法.強(qiáng)度標(biāo)的可重復(fù)性和一致性
GB/T 19499-2004表面化學(xué)分析一數(shù)據(jù)傳輸格式
GB/T 19500-2004X一射線光電子能譜分析方法通則
GB/T 19502-2004表面化學(xué)分析一輝光放電發(fā)射光譜方法通則
GB/T 20175-2006表面化學(xué)分析 濺射深度剖析 用層狀膜系為參考物質(zhì)的優(yōu)化方法
GB/T 20176-2006表面化學(xué)分析 二次離子質(zhì)譜 用均勻摻雜物質(zhì)測(cè)定硅中硼的原子濃度
GB/T 21006-2007表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)的線性
GB/T 21007-2007表面化學(xué)分析 信息格式
GB/T 22461-2008表面化學(xué)分析 詞匯
檢測(cè)樣品：金屬，塑料等各種材料。
檢測(cè)項(xiàng)目：表面化學(xué)分析
檢測(cè)周期：7-15個(gè)工作日(參考周期)
檢測(cè)樣品：金屬，塑料等各種材料。健明迪檢測(cè)檢測(cè)周期短，費(fèi)用低，實(shí)驗(yàn)室儀器先進(jìn)，科研團(tuán)隊(duì)強(qiáng)大，一直秉著研發(fā)貢獻(xiàn)精神服務(wù)客戶(hù)，全國(guó)多家實(shí)驗(yàn)室分支，真正的一站式檢測(cè)服務(wù)。
